IEF präsentiert sich auf der nordjob Flensburg (07.06. – 08.06.2018)

Sie finden die IEF auf dem Stand der Universität Rostock zusammen mit weiteren MINT-Fakultäten und der Allgemeinen Studienberatung. Die Messe arbeitet terminbasiert, d.h. Sie als Schülerinnen und Schüler haben die Möglichkeit, vorab über den Messeveranstalter Gesprächstermine mit den Ausstellern zu vereinbaren. Auf der Messe haben Sie neben den vereinbarten Gesprächsterminen ebenfalls die Möglichkeit, spontan die Messestände zu besuchen und sich beraten zu lassen. Die Messe ist für Sie kostenfrei.

Die Fakultät für Informatik und Elektrotechnik informiert über die Bachelor-Studiengänge Elektrotechnik, Informatik (inkl. Lehramt Informatik), Informationstechnik/Technische Informatik und Wirtschaftsinformatik, über die gleichnamigen weiterführenden Master-Studiengänge sowie die forschungsorientierten Masterstudiengänge Computational Science and Engineering, Electrical Engineering (beide in Englisch) und Visual Computing.

Die Universität Rostock bietet darüber hinaus mit ihren über 140 Studiengängen und 24 Hauptfächern für vier verschiedene Schultypen ein sehr breites Fächerspektrum. Sie ist damit eine der wenigen Volluniversitäten in Deutschland, an der alle grundlegenden Wissenschaftsgebiete in Lehre und Forschung vertreten sind und die Ihnen damit breite Möglichkeiten zur individuellen interdisziplinären Spezialisierung während Ihres Studiums bietet.

Die nordjob Flensburg wird seit 2001 jährlich vom Institut für Talententwicklung als terminbasierte Fachmesse für Ausbildung und Studium organisiert und von über 5.000 Schülerinnen und Schülern besucht. Auf der Messe sind ca. 150 Universitäten, Hochschulen, Fachhochschulen, Berufsfachschulen, sowie Unternehmen, Ausbildungsbetriebe und Beratungsorganisationen aus Deutschland und dem Ostseeraum vertreten. Die Schirmherrschaft für die nordjob Flensburg 2018 haben die Bundesministerin für Bildung und Forschung Anja Karliczek und die Bildungsministerin des Landes Schleswig-Holstein Karin Prien übernommen.

Quellen und weitere Informationen:


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